Международный форум «Два дня патентной аналитики. Патентная аналитика как инструмент управления наукой, технологиями и инновациями» 18–19 ноября собрал ведущих экспертов в области интеллектуальной собственности со всего мира — из России, Сингапура, Франции, Японии, Германии, США, Китая и других стран.
В «Сириусе» подвели итоги Международного форума Роспатента. В мероприятии приняли участие эксперты по патентной аналитике со всего мира, в ходе секций были представлены инициативы в этой области. Также был подписан ряд важных соглашений.
Подробнее здесь
